Measurement technique for thin films [proceedings]

Dettagli Bibliografici
Autore principale: Schwartz, Bertram (d. By)
Altri autori: Schwartz, Newton
Natura: Printed Book
Lingua:English
Pubblicazione: New York The Electrochemical Society 1967
Soggetti:
Microelectronics > Electronics > Semiconductors > Thin films

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Collocazione: 621.3.049.772.2:621.317 SCH
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