Measurement technique for thin films [proceedings]

Dades bibliogràfiques
Autor principal: Schwartz, Bertram (d. By)
Altres autors: Schwartz, Newton
Format: Printed Book
Idioma:English
Publicat: New York The Electrochemical Society 1967
Matèries:
Microelectronics > Electronics > Semiconductors > Thin films

UL

Detall dels fons de UL
Signatura: 621.3.049.772.2:621.317 SCH
Còpia Comprovació en temps real no disponible

Ítems similars