Measurement technique for thin films [proceedings]

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Schwartz, Bertram (d. By)
مؤلفون آخرون: Schwartz, Newton
التنسيق: Printed Book
اللغة:English
منشور في: New York The Electrochemical Society 1967
الموضوعات:
Microelectronics > Electronics > Semiconductors > Thin films

UL

تفاصيل المقتنيات من UL
رقم الطلب: 621.3.049.772.2:621.317 SCH
النسخة الحالة المباشرة غير متاحة

مواد مشابهة