Measurement technique for thin films [proceedings]

Библиографические подробности
Главный автор: Schwartz, Bertram (d. By)
Другие авторы: Schwartz, Newton
Формат: Printed Book
Язык:English
Опубликовано: New York The Electrochemical Society 1967
Предметы:
Microelectronics > Electronics > Semiconductors > Thin films
Описание
Примечание: Symposium sponsored by Electronics division of the electrochemical society
Объем:vi, 364p.

Схожие документы