Measurement technique for thin films [proceedings]

Detalhes bibliográficos
Autor principal: Schwartz, Bertram (d. By)
Outros Autores: Schwartz, Newton
Formato: Printed Book
Idioma:English
Publicado em: New York The Electrochemical Society 1967
Assuntos:
Microelectronics > Electronics > Semiconductors > Thin films
Descrição
Descrição do item: Symposium sponsored by Electronics division of the electrochemical society
Descrição Física:vi, 364p.

Registros relacionados