Measurement technique for thin films [proceedings]

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Schwartz, Bertram (d. By)
Andere auteurs: Schwartz, Newton
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: New York The Electrochemical Society 1967
Onderwerpen:
Microelectronics > Electronics > Semiconductors > Thin films
Omschrijving
Beschrijving item: Symposium sponsored by Electronics division of the electrochemical society
Fysieke beschrijving:vi, 364p.

Gelijkaardige items