Measurement technique for thin films [proceedings]

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Schwartz, Bertram (d. By)
מחברים אחרים: Schwartz, Newton
פורמט: Printed Book
שפה:English
יצא לאור: New York The Electrochemical Society 1967
נושאים:
Microelectronics > Electronics > Semiconductors > Thin films
תיאור
תאור פריט: Symposium sponsored by Electronics division of the electrochemical society
תיאור פיזי:vi, 364p.

פריטים דומים