Measurement technique for thin films [proceedings]

Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Schwartz, Bertram (d. By)
Outros autores: Schwartz, Newton
Formato: Printed Book
Idioma:English
Publicado: New York The Electrochemical Society 1967
Subjects:
Microelectronics > Electronics > Semiconductors > Thin films
Descripción
descrición da copia: Symposium sponsored by Electronics division of the electrochemical society
Descrición Física:vi, 364p.

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