Measurement technique for thin films [proceedings]

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Schwartz, Bertram (d. By)
Beste egile batzuk: Schwartz, Newton
Formatua: Printed Book
Hizkuntza:English
Argitaratua: New York The Electrochemical Society 1967
Gaiak:
Microelectronics > Electronics > Semiconductors > Thin films
Deskribapena
Alearen deskribapena: Symposium sponsored by Electronics division of the electrochemical society
Deskribapen fisikoa:vi, 364p.

Antzeko izenburuak