Measurement technique for thin films [proceedings]

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Schwartz, Bertram (d. By)
Další autoři: Schwartz, Newton
Médium: Printed Book
Jazyk:English
Vydáno: New York The Electrochemical Society 1967
Témata:
Microelectronics > Electronics > Semiconductors > Thin films
Popis
Popis jednotky: Symposium sponsored by Electronics division of the electrochemical society
Fyzický popis:vi, 364p.

Podobné jednotky