Measurement technique for thin films [proceedings]

Dades bibliogràfiques
Autor principal: Schwartz, Bertram (d. By)
Altres autors: Schwartz, Newton
Format: Printed Book
Idioma:English
Publicat: New York The Electrochemical Society 1967
Matèries:
Microelectronics > Electronics > Semiconductors > Thin films
Descripció
Descripció de l’ítem: Symposium sponsored by Electronics division of the electrochemical society
Descripció física:vi, 364p.

Ítems similars