Measurement technique for thin films [proceedings]

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Schwartz, Bertram (d. By)
مؤلفون آخرون: Schwartz, Newton
التنسيق: Printed Book
اللغة:English
منشور في: New York The Electrochemical Society 1967
الموضوعات:
Microelectronics > Electronics > Semiconductors > Thin films
الوصف
وصف المادة: Symposium sponsored by Electronics division of the electrochemical society
وصف مادي:vi, 364p.

مواد مشابهة