Yüklüyor......
Electrical conduction and dielectrical behavior of thin films of vaccum evaporated amorphus silicon, Hydrogenate amorphus silicon and chemically deposite cadmium sheets
Yazar: | |
---|---|
Materyal Türü: | Ph.D Thesis |
Dil: | English |
Baskı/Yayın Bilgisi: |
Kochi
Dept. of Physics - CUSAT
1989
|
Konular: |
UL
Yer Numarası: |
539.216:537.311:546.28 RAJ |
---|---|
Kopya Bilgisi | Konumu erişilebilir değil. |