Yüklüyor......

Electrical conduction and dielectrical behavior of thin films of vaccum evaporated amorphus silicon, Hydrogenate amorphus silicon and chemically deposite cadmium sheets

Detaylı Bibliyografya
Yazar: Rajeev Kumar K.
Materyal Türü: Ph.D Thesis
Dil:English
Baskı/Yayın Bilgisi: Kochi Dept. of Physics - CUSAT 1989
Konular:

UL

Detaylı Erişim Bilgileri UL
Yer Numarası: 539.216:537.311:546.28 RAJ
Kopya Bilgisi Konumu erişilebilir değil.