Ładuje się......

Electrical conduction and dielectrical behavior of thin films of vaccum evaporated amorphus silicon, Hydrogenate amorphus silicon and chemically deposite cadmium sheets

Opis bibliograficzny
1. autor: Rajeev Kumar K.
Format: Ph.D Thesis
Język:English
Wydane: Kochi Dept. of Physics - CUSAT 1989
Hasła przedmiotowe:

UL

Szczegóły zapisu UL
Sygnatura: 539.216:537.311:546.28 RAJ
Egzemplarz Możliwość dostępu nieznana