Wordt geladen...

Electrical conduction and dielectrical behavior of thin films of vaccum evaporated amorphus silicon, Hydrogenate amorphus silicon and chemically deposite cadmium sheets

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Rajeev Kumar K.
Formaat: Ph.D Thesis
Taal:English
Gepubliceerd in: Kochi Dept. of Physics - CUSAT 1989
Onderwerpen:

UL

Exemplaargegevens van UL
Plaatsingsnummer: 539.216:537.311:546.28 RAJ
Kopie Status is onbeschikbaar