טוען...

Electrical conduction and dielectrical behavior of thin films of vaccum evaporated amorphus silicon, Hydrogenate amorphus silicon and chemically deposite cadmium sheets

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Rajeev Kumar K.
פורמט: Ph.D Thesis
שפה:English
יצא לאור: Kochi Dept. of Physics - CUSAT 1989
נושאים:

UL

פרטי מלאי ספרים מ UL
סימן המיקום: 539.216:537.311:546.28 RAJ
עותק סטטוס עדכני לא זמין