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Electrical conduction and dielectrical behavior of thin films of vaccum evaporated amorphus silicon, Hydrogenate amorphus silicon and chemically deposite cadmium sheets

Détails bibliographiques
Auteur principal: Rajeev Kumar K.
Format: Ph.D Thesis
Langue:English
Publié: Kochi Dept. of Physics - CUSAT 1989
Sujets:

UL

Informations d'exemplaires de UL
Cote: 539.216:537.311:546.28 RAJ
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