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Electrical conduction and dielectrical behavior of thin films of vaccum evaporated amorphus silicon, Hydrogenate amorphus silicon and chemically deposite cadmium sheets

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Rajeev Kumar K.
Formato: Ph.D Thesis
Lenguaje:English
Publicado: Kochi Dept. of Physics - CUSAT 1989
Materias:

UL

Detalle de Existencias desde UL
Número de Clasificación: 539.216:537.311:546.28 RAJ
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