Φορτώνει......

Electrical conduction and dielectrical behavior of thin films of vaccum evaporated amorphus silicon, Hydrogenate amorphus silicon and chemically deposite cadmium sheets

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Rajeev Kumar K.
Μορφή: Ph.D Thesis
Γλώσσα:English
Έκδοση: Kochi Dept. of Physics - CUSAT 1989
Θέματα:

UL

Λεπτομέρειες τεκμηρίων από UL
Ταξιθετικός Αριθμός: 539.216:537.311:546.28 RAJ
Αντίγραφο Η τρέχουσα κατάσταση είναι άγνωστη