Φορτώνει......
Electrical conduction and dielectrical behavior of thin films of vaccum evaporated amorphus silicon, Hydrogenate amorphus silicon and chemically deposite cadmium sheets
Κύριος συγγραφέας: | |
---|---|
Μορφή: | Ph.D Thesis |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
Kochi
Dept. of Physics - CUSAT
1989
|
Θέματα: |
UL
Ταξιθετικός Αριθμός: |
539.216:537.311:546.28 RAJ |
---|---|
Αντίγραφο | Η τρέχουσα κατάσταση είναι άγνωστη |