Načítá se...

Electrical conduction and dielectrical behavior of thin films of vaccum evaporated amorphus silicon, Hydrogenate amorphus silicon and chemically deposite cadmium sheets

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Rajeev Kumar K.
Médium: Ph.D Thesis
Jazyk:English
Vydáno: Kochi Dept. of Physics - CUSAT 1989
Témata:

UL

Informace o exemplářích z: UL
Signatura: 539.216:537.311:546.28 RAJ
Jednotka Neznámá aktuální dostupnost