Résultat(s) 1 - 1 résultats de 1 pour la requête 'Hofer, W.', Temps de recherche: 0,01s Affiner les résultats
  1. 1
    Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents
    par Foster, A.
    Publié 2006
    Autres auteurs: “...Hofer, W....”
    Printed Book
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